International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

TC 104

Conditions, classification et essais d'environnement

 
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CENELEC

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89/1509B/RVC

[Revised Result of Voting on 89/1487/CDV - IEC 60695-2-10 ED3: Fire hazard testing - Part 2-10: Glowing/hot-wire based test methods - Glow-wire apparatus and common test procedure]

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2020-10-02 Y
1/2446/FDIS

IEC 60050-195 ED2: Vocabulaire Electrotechnique International (IEV) - Partie 195: Mise à la terre et protection contre les chocs électriques

2020-09-11 2020-10-23 N Voting Result
70/148/CC

[Compilation of Comments on 70/146/CD - IEC 62262/AMD1 ED1: Amendment 1 - Degrees of protection provided by enclosures for electrical equipment against external mechanical impacts (IK code)]

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2020-08-28 Y
89/1510A/RVC

[Revised Result of Voting on 89/1492/CDV - IEC 60695-2-11 ED3: Fire hazard testing - Part 2-11: Glowing/hot-wire based test methods - Glow-wire flammability test method for end-products (GWEPT)]

Titre français non disponible

2020-08-21 Y
89/1511A/RVC

[Revised Result of Voting on 89/1491/CDV - IEC 60695-2-13 ED3: Fire hazard testing - Part 2-13: Glowing/hot-wire based test methods - Glow-wire ignition temperature (GWIT) test method for materials]

Titre français non disponible

2020-08-21 Y
89/1513A/RVC

[Revised Result of Voting on 89/1497/CDV - IEC 60695-2-12 ED3: Fire hazard testing - Part 2-12: Glowing/hot-wire based test methods - Glow-wire flammability index (GWFI) test method for materials]

Titre français non disponible

2020-08-21 Y
25/700/CC

[Compilation of Comments on 25/696/CD - IEC 80000-17 ED1: Quantities and units - Part 17: Time dependency]

Titre français non disponible

2020-08-14 Y
47/2644/RVD

[Result of Voting on 47/2633/FDIS - IEC 60749-30 ED2: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing]

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2020-07-10 Y
47/2637/RVD

[Result of Voting on 47/2627/FDIS - IEC 62373-1 ED1: Semiconductor devices – Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) - Part 1: Fast BTI test for MOSFET]

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2020-06-26 N
47/2638/RVD

[Result of Voting on 47/2628/FDIS - IEC 63068-3 ED1: Semiconductor devices – Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 3: Test method for defects using photoluminescence]

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2020-06-26 N
64/2438A/RR

[Revised review report of IEC 60479-2 ED1: Effects of current on human beings and livestock - Part 2: Special aspects]

Titre français non disponible

2020-05-29 N
64/2450/CD

[IEC 60479-2 ED2: Effects of current on human beings and livestock - Part 2: Special aspects]

Titre français non disponible

2020-05-29 2020-07-24 N Report of Comments
47/2633/FDIS

IEC 60749-30 ED2: Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 30: Préconditionnement des composants pour montage en surface non hermétiques avant les essais de fiabilité

2020-05-22 2020-07-03 Y Voting Result
25/695/RR

[Review report on IEC 60027-1 Ed6: Letters symbols to be used in electrical technology - Part 1: General]

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2020-05-08 Y
25/696/CD

[IEC 80000-17 ED1: Quantities and units - Part 17: Time dependency]

Titre français non disponible

2020-05-08 2020-07-31 Y Report of Comments
47/2621/CDV

[IEC 63229 ED1: Semiconductor devices – The classification of defects in gallium nitride epitaxial film on silicon carbide substrate]

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2020-05-01 2020-07-24 N Voting Result
47/2627/FDIS

IEC 62373-1 ED1: Dispositifs à semiconducteurs - Essai de stabilité de température en polarisation pour transistors à effet de champ métal-oxyde-semiconducteur (MOSFET) – Partie 1: Essai rapide de BTI pour les MOSFET

2020-05-01 2020-06-12 N Voting Result
47/2628/FDIS

IEC 63068-3 ED1: Dispositifs à semiconducteurs - Critères de reconnaissance non destructifs des défauts présents au sein d’une plaquette homoépitaxiale de carbure de silicium destinée aux dispositifs d’alimentation - Partie 3 : Méthode d’essai pour les défauts à l’aide de la photoluminescence

2020-05-01 2020-06-12 N Voting Result
47/2629/RVC

[Result of Voting on 47/2562/CDV - IEC 60749-30 ED2: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing]

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2020-05-01 Y
89/1512/RVDTS

[Result of Voting on 89/1498/DTS - IEC TS 60695-11-40 ED2: Fire hazard testing - Part 11-40: Test flames - Confirmatory tests - Guidance]

Titre français non disponible

2020-05-01 N
89/1502/RVC

[Result of Voting on 89/1462/CDV - IEC 60695-4 ED5: Fire hazard testing - Part 4: Terminology concerning fire tests for electrotechnical products]

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2020-04-24 Y
89/1503/RVC

[Result of Voting on 89/1471/CDV - IEC 60695-5-1 ED3: Fire hazard testing - Part 5-1: Corrosion damage effects of fire effluent - General guidance - "PROPOSED HORIZONTAL STANDARD"]

Titre français non disponible

2020-04-24 Y
89/1504/RVC

[Result of Voting on 89/1472/CDV - IEC 60695-6-1 ED3: Fire hazard testing - Part 6-1: Smoke obscuration - General guidance "PROPOSED HORIZONTAL STANDARD"]

Titre français non disponible

2020-04-24 Y
89/1505/RVC

[Result of Voting on 89/1469/CDV - IEC 60695-9-2 ED2: Fire hazard testing - Part 9-2: Surface spread of flame - Summary and relevance of test methods - "PROPOSED HORIZONTAL STANDARD"]

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2020-04-24 Y
89/1506/RVDTS

[Result of Voting on 89/1473/DTS - IEC TS 60695-5-2 ED3: Fire hazard testing - Part 5-2: Corrosion damage effects of fire effluent - Summary and relevance of test methods]

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2020-04-24 U
89/1507/RVC

[Result of Voting on 89/1482/CDV - IEC 60695-11-11 ED1: Fire hazard testing - Part 11-11: Test flames - Determination of the characteristic heat flux for ignition from a non-contacting flame source]

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2020-04-24 Y
89/1508/RVC

[Result of Voting on 89/1489/CDV - IEC 60695-7-2 ED2: Fire hazard testing - Part 7-2: Toxicity of fire effluent - Summary and relevance of test methods]

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2020-04-24 Y
47/2625/RR

[Review report of IEC 60749-28 Ed.1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level ]

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2020-04-17 Y
111/577/RVD

[Result of Voting on 111/573/FDIS - IEC 62321-3-2 ED2: Determination of certain substances in electrotechnical products - Part 3-2: Screening - Fluorine, bromine and chlorine in polymer and electronics by combustion-ion chromatography (C-IC)]

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2020-04-17 N
47/2622/CD

[IEC 63275-1 ED1: Semiconductor devices - Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors - Part 1: Test method for bias temperature instability]

Titre français non disponible

2020-03-27 2020-06-19 Y Report of Comments
47/2623/CD

[IEC 63275-2 ED1: Semiconductor devices - Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors - Part 2: Test method for bipolar degradation by body diode operating]

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2020-03-27 2020-06-19 Y Report of Comments
47/2624/CD

[IEC 63284 ED1: Semiconductor devices - Reliability test method of on-stress reliability by inductive load switching for gallium nitride transistors]

Titre français non disponible

2020-03-27 2020-06-19 Y Report of Comments
1/2432/RVC

[Result of Voting on 1/2407/CDV - IEC 60050-195 ED2: International Electrotechnical Vocabulary (IEV) - Part 195: Earthing and protection against electric shock]

Titre français non disponible

2020-03-20 N
47/2619/RVC

[Result of Voting on 47/2588/CDV - IEC 63068-3 ED1: Semiconductor devices – Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 3: Test method for defects using photoluminescence]

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2020-03-06 N
47/2620/CC

[Compilation of Comments on 47/2599/CD - IEC 63229 ED1: Semiconductor devices – The classification of defects in gallium nitride epitaxial film on silicon carbide substrate]

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2020-03-06 N
111/573/FDIS

IEC 62321-3-2 ED2: Détermination de certaines substances dans les produits électrotechniques - Partie 3-2: Détection du fluor, du chlore et du brome dans les polymères et les produits électroniques par combustion - Chromatographie ionique (C-IC)

2020-02-28 2020-04-10 N Voting Result
89/1497/CDV

IEC 60695-2-12 ED3: Essais relatifs aux risques du feu - Partie 2-12: Essais au fil incandescent/chauffant - Méthode d'essai d'indice d'inflammabilité au fil incandescent (GWFI) pour matériaux

2020-01-31 2020-04-24 Y Voting Result
64/2415/CDV

IEC 60364-5-54/AMD1 ED3: Amendement 1 - Installations électriques à basse tension - Partie 5-54: Choix et mise en oeuvre des matériels électriques - Installations de mise à la terre et conducteurs de protection

2020-01-17 2020-04-10 Y Voting Result
70/146/CD

IEC 62262/AMD1 ED1: Amendement 1 - Degrés de protection procurés par les enveloppes de matériels électriques contre les impacts mécaniques externes (Code IK)

2020-01-17 2020-04-10 Y Report of Comments
70/145/CC

[Compilation of Comments on 70/144/CD - IEC 62262/AMD1 ED1: Degrees of protection provided by enclosures for electrical equipment against external mechanical impacts (IK code)]

Titre français non disponible

2020-01-10 Y
47/2612/RVN

[Result of Voting on 47/2578/NP - PNW 47-2578: Semiconductor devices - Reliability test method of on-stress reliability by inductive load switching for gallium nitride transistors]

Titre français non disponible

2020-01-03 Y
89/1498/DTS

IEC TS 60695-11-40 ED2: Essais relatifs aux risques du feu - Partie 11-40: Flammes d'essai - Essais de confirmation - Guide

2019-12-13 2020-03-06 N Voting Result
25/692/CD

[ISO 80000-1 ED2: Quantities and units - Part 1: General]

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2019-11-29 2020-01-24 N Report of Comments
89/1491/CDV

IEC 60695-2-13 ED3: Essais relatifs aux risques du feu - Partie 2-13: Essais au fil incandescent/chauffant - Méthode d'essai de température d'allumabilité au fil incandescent (GWIT) pour matériaux

2019-11-29 2020-02-21 Y Voting Result
89/1492/CDV

IEC 60695-2-11 ED3: Essais relatifs aux risques du feu - Partie 2-11: Essais au fil incandescent/chauffant - Méthode d'essai d'inflammabilité pour produits finis (GWEPT)

2019-11-29 2020-02-21 Y Voting Result
47/2607/RVC

[Result of Voting on 47/2570/CDV - IEC 62373-1 ED1: Semiconductor devices – Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) - Part 1: Fast BTI Test for MOSFET]

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2019-11-22 N
47/2605/RVN

[Result of Voting on 47/2576A/NP - PNW 47-2576: Semiconductor devices - Reliability test method for silicon carbide descrete metal-oxide semiconductor field effect transistors - Part 1: Test method for bias temperature instability]

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2019-11-15 Y
47/2606/RVN

[Result of Voting on 47/2577A/NP - PNW 47-2577: Semiconductor devices - Reliability test method for silicon carbide descrete metal-oxide semiconductor field effect transistors - Part 2: Test method for bipolar degradation by body diode operating]

Titre français non disponible

2019-11-15 Y
64/2407/RVC

[Result of Voting on 64/2370/CDV - IEC 60364-5-54/AMD1 ED3: Low-voltage electrical installations - Part 5-54: Selection and erection of electrical equipment - Earthing arrangements and protective conductors]

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2019-11-15 Y
89/1487/CDV

IEC 60695-2-10 ED3: Essais relatifs aux risques du feu - Partie 2-10: Essais au fil incandescent/chauffant - Appareillage et méthode commune d'essai

2019-11-01 2020-01-24 Y Voting Result
89/1489/CDV

IEC 60695-7-2 ED2: Essais relatifs aux risques du feu - Partie 7-2: Toxicité des effluents du feu - Résumé et pertinence des méthodes d'essai

2019-11-01 2020-01-24 Y Voting Result