International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

SC 47E

Dispositifs discrets à semiconducteurs

 
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SC 47E Programme de Travail (14)

Référence

Projet

Référence

Document

Init.

Date

Stage

Courant

Prochain

Stage

Working

Group

Project

Leader

Fcst. Publ.

Date

47E/718/NP PNW
  • PNW
  • New Work Item Proposal

2020-09

PRVN
  • PRVN
  • Preparation of RVN document

2020-12

WG 1 JongMuk LEE 2023-12
47E/719/NP PNW
  • PNW
  • New Work Item Proposal

2020-09

PRVN
  • PRVN
  • Preparation of RVN document

2020-12

WG 1 JongMuk LEE 2023-12
47E/725/NP PNW
  • PNW
  • New Work Item Proposal

2020-09

PRVN
  • PRVN
  • Preparation of RVN document

2020-12

WG 2 li li 2023-09
IEC 60747-5-4 ED2

Dispositifs à semiconducteurs - Partie 5-4: Dispositifs optoélectroniques - Lasers à semiconducteurs

47E/687/CD 2019-10 CDM
  • CDM
  • CD to be discussed at meeting

2020-02

2020-12

WG 9 Junichi Yoshida 2021-11
IEC 60747-5-6 ED2

Dispositifs à semiconducteurs - Partie 5-6: Dispositifs optoélectroniques - Diodes électroluminescentes

47E/701/CDV 2019-02 AFDIS
  • AFDIS
  • Approved for FDIS

2020-09

DECFDIS
  • DECFDIS
  • FDIS at Editing Check

2020-12

WG 9 Fumio Ogawa 2021-07
47E/710/CD CDM
  • CDM
  • Committee Draft to be discussed at Meeting

2020-09

2020-12

WG 9 Jong-In Shim 2021-08
47E/702/CDV 2018-09 AFDIS
  • AFDIS
  • Approved for FDIS

2020-09

DECFDIS
  • DECFDIS
  • FDIS at Editing Check

2020-12

WG 9 Fumio Ogawa 2021-07
47E/716/CD 2020-06 PCC
  • PCC
  • Preparation of CC

2020-10

2020-11

WG 9 Jong-In Shim 2022-05
47E/717/CD 2020-06 PCC
  • PCC
  • Preparation of CC

2020-10

2020-11

WG 9 Dong-Soo Shin 2022-05
IEC 60747-8/AMD1 ED3

Amendement 1 - Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs descrets - Partie 8: Transistors à effet de champ

47E/669/CD 2019-01 TCDV
  • TCDV
  • Translation of CDV

2020-09

CCDV
  • CCDV
  • Draft circulated as CDV

2020-11

WG 3 Yoshinori Iwano 2021-12
IEC 60747-14-11 ED1

Dispositifs à semiconducteurs - Partie 14 -11 : Capteurs à semiconducteurs - Méthode d'essai des capteurs intégrés à ondes acoustiques de surface pour le mesurage des rayons ultraviolets, de l'éclairement et de la température

47E/674/CDV 2017-06 APUB
  • APUB
  • Approved for publication

2020-05

APUB
  • APUB
  • Approved for publication

2020-07

PT 60747-14-11 Kunnyun Kim 2021-03
47E/698/CD 2020-02 ACD
  • ACD
  • Approved for CD

2020-10

2CD
  • 2CD

2020-12

WG 2 deng shixiong 2022-03
47E/699/CD 2020-02 ACD
  • ACD
  • Approved for CD

2020-10

2CD
  • 2CD

2020-12

WG 2 deng shixiong 2022-03
47E/693/DTS

2019-06 PRVDTS
  • PRVDTS
  • Preparation of RVDTS

2020-02

2020-05

WG 1 Kazuyoshi Furuta 2021-05