International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

SC 47F

Systèmes microélectromécaniques

 
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SC 47F Programme de Travail (3)

Référence

Projet

Référence

Document

Init.

Date

Stage

Courant

Prochain

Stage

Working

Group

Project

Leader

Fcst. Publ.

Date

47F/339/NP PNW
  • PNW
  • New Work Item Proposal

2019-07

PRVN
  • PRVN
  • Preparation of RVN document

2019-09

WG 2 2023-01
IEC 62047-35 ED1

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 35 : Méthode d'essai des caractéristiques électriques sous déformation par courbure de dispositifs électromécaniques flexibles et pliables

47F/320/CDV 2017-07 TFDIS
  • TFDIS
  • Translation of FDIS

2019-07

DECFDIS
  • DECFDIS
  • FDIS at Editing Check

2019-08

WG 2 Shoji Kamiya 2020-03
IEC 62047-37 ED1

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 37 : Méthodes d’essai d’environnement des couches minces piézoélectriques MEMS pour les applications de type capteur

47F/324/CD 2018-09 TCDV
  • TCDV
  • Translation of CDV

2019-05

CCDV
  • CCDV
  • Draft circulated as CDV

2019-07

WG 2 Isaku KANNO 2020-09