TC 47

Dispositifs à semiconducteurs

 
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TC 47 Programme de Travail (21)

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Courant

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Stage

Working

Group

Project

Leader

Fcst. Publ.

Date

47/2671/NP PRVN
  • PRVN
  • Preparation of RVN

2021-03

2021-04

WG 1 Wonjong KIM 2023-12
47/2683/NP PRVN
  • PRVN
  • Preparation of RVN

2021-04

2021-04

WG 7 Yuji SUZUKI 2023-08
47/2685/NP PRVN
  • PRVN
  • Preparation of RVN

2021-04

2021-05

WG 5 Junji SENZAKI 2024-09
47/2689/NP PRVN
  • PRVN
  • Preparation of RVN

2021-05

2021-06

WG 2 Hidetoshi Nakanishi 2024-05
IEC 60749-10 ED2

Dispositifs à semiconducteurs — Méthodes d’essais mécaniques et climatiques — Partie 10: Chocs mécaniques — Dispositif et sous-ensemble

47/2691/RR 2021-03 TCDV
  • TCDV
  • Translation of CDV

2021-04

CCDV
  • CCDV
  • Draft circulated as CDV

WG 2 Jim Lynch 2022-06
IEC 60749-28 ED2

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d’essai mécaniques et climatiques - Partie 28: Essai de sensibilité aux décharges électrostatiques (DES) - Modèle de dispositif chargé (CDM) - niveau du dispositif

47/2661/CDV 2020-04 PRVC
  • PRVC
  • Preparation of RVC

2021-02

2021-05

WG 2 Jim Lynch 2022-04
IEC 60749-37 ED2

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 37: Méthode d'essai de chute au niveau de la carte avec utilisation d'un accéléromètre

47/2651/CDV 2020-08 PRVC
  • PRVC
  • Preparation of RVC

2021-01

2021-04

WG 2 Jim Lynch 2022-03
IEC 60749-39 ED2

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 39: Mesure de la diffusion d'humidité et de l'hydrosolubilité dans les matériaux organiques utilisés dans les composants à semiconducteurs

47/2652/CDV 2020-08 PRVC
  • PRVC
  • Preparation of RVC

2021-01

2021-04

WG 2 Jim Lynch 2022-03
IEC 62435-9 ED1

Composants électroniques – Stockage de longue durée des dispositifs électroniques à semiconducteurs – Partie 9: Cas particuliers

47/2667/CDV 2020-07 RFDIS
  • RFDIS
  • FDIS received and registered

2021-04

CFDIS
  • CFDIS
  • Draft circulated as FDIS

2021-07

WG 2 Alan Lucero 2021-09
47/2655/CDV 2019-04 PRVC
  • PRVC
  • Preparation of RVC

2021-01

2021-04

WG 7 Jae Yeong Park 2022-02
47/2648/CD 2020-07 PCC
  • PCC
  • Preparation of CC

2020-11

2020-12

WG 6 Namsu Kim 2022-05
47/2656/CD 2020-06 PCC
  • PCC
  • Preparation of CC

2020-12

2021-01

WG 6 Deok-kee Kim 2022-09
IEC 63244-1 ED1

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs à semiconducteurs pour le transfert de puissance et la charge sans fil - Partie 1: Exigences et spécifications générales

47/2653/CDV 2019-04 AFDIS
  • AFDIS
  • Approved for FDIS

2021-04

DECFDIS
  • DECFDIS
  • FDIS at editing check

2021-06

WG 7 Cheolung Cha 2022-01
IEC 63275-1 ED1

Dispositifs à semiconducteurs - Méthode d’essai de fiabilité pour les transistors à effet de champ métal-oxyde-semiconducteurs discrets en carbure de silicium - Partie 1: Méthode d’essai pour mesure de la dérive de la tension de seuil après polarisation électrique en température

47/2679/CDV 2019-11 CCDV
  • CCDV
  • Draft circulated as CDV

2021-02

PRVC
  • PRVC
  • Preparation of RVC

2021-05

WG 5 KOJI YAMAGUCHI 2022-04
IEC 63275-2 ED1

Dispositifs à semiconducteurs - Méthode d’essai de fiabilité pour les transistors à effet de champ métal-oxyde-semiconducteurs discrets en carbure de silicium - Partie 2: Méthode d’essai de la dégradation bipolaire due au fonctionnement de la diode intrinsèque

47/2680/CDV 2019-11 CCDV
  • CCDV
  • Draft circulated as CDV

2021-02

PRVC
  • PRVC
  • Preparation of RVC

2021-05

WG 5 KOJI YAMAGUCHI 2022-04
47/2681/CDV 2020-01 CCDV
  • CCDV
  • Draft circulated as CDV

2021-02

PRVC
  • PRVC
  • Preparation of RVC

2021-05

WG 5 MANABU YANAGIHARA 2022-05
IEC 63287-1 ED1

Dispositifs à semiconducteurs – Lignes directrices génériques concernant la qualification des semiconducteurs – Partie 1: Lignes directrices concernant la qualification de la fiabilité de l’intégration à grande échelle (LSI)

47/2614/CDV 2020-01 RFDIS
  • RFDIS
  • FDIS received and registered

2021-05

CFDIS
  • CFDIS
  • Draft circulated as FDIS

2021-07

WG 2 Jim Lynch 2021-10
47/2688/CD 2020-10 PCC
  • PCC
  • Preparation of CC

2021-04

2021-05

WG 2 Yoichi Iga 2023-12
47/2677/DTR

2020-12 PRVDTR
  • PRVDTR
  • Preparation of RVDTR

2021-02

2021-05

WG 6 Wonjong KIM 2022-01
47/2665/NP 2021-01 ACD
  • ACD
  • Approved for CD

2021-01

CD
  • CD
  • Draft circulated as CD

2021-03

WG 6 Hojun Ryu 2023-03
47/2690/CDV CCDV
  • CCDV
  • Draft circulated as CDV

2021-04

PRVC
  • PRVC
  • Preparation of RVC

2021-06

WG 5 Stephanie Butler 2022-06