International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

TC 113

Nanotechnologies relatives aux appareils et systèmes électrotechnologiques

 
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WG 7 Convenor & Membres

Convenor
National

Comité
Mr Hiroyuki Akinaga
 JP
Mr Won-Kyu Park
 KR
Membre
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National

Comité
Mr Shinji ARAMAKIJP
Mr Joonho BaeKR
Mr Werner BergholzDE
Mr Clare C. ByeonKR
Ms Jeonghee ChungKR
Mr Shifeng DaiCN
Mr Norbert FabriciusDE
Mr Ge GuangluCN
Mr Jens Andreas HauchDE
Ms Evelyn H. HirtUS
Mr Soonkoo kimKR
Mr Denis KoltsovGB
Ms Soonduck KongKR
Ms Hajin LeeKR
Ms xiaojing liuCN
Ms renxiao liuCN
Mr Greg Peter LopinskiCA
Mr Kyungho parkKR
Mr Alex PriceGB
Mr Haridoss SarmaCA
Mrs Nataly A. ShlamkovaRU
Mr Young Jae songKR
Ms Yiqun WANGCN
Mr Gerd WekingDE
Mr Soonil YeoKR
Mr Won Jong YooKR
Mr Yuji YoshidaJP
Mr Choi Young ChulKR
Ms Donghui ZhangCN

Titre & Tâche

WG 7

Fiabilité

 

Développer des normes pour l’évaluation de la fiabilité dans le domaine des nano-électrotechnologies. Les travaux se concentrent sur les mécanismes de défaillance et les modes de défaillance liés à l’utilisation des nanomatériaux, sur les interfaces entre matériaux et les contacts à l’échelle nano en prenant en compte les effets dépendant de la taille. Les normes à développer incluent les méthodes d’essais pour identifier les mécanismes de défaillance, pour déterminer la durée de vie, pour analyser les effets des défaillances et évaluer la durabilité des produits possibles grâce aux nanotechnologies.