International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

SC 47F

Systèmes microélectromécaniques

 

Détail

Comité
Groupes de Travail
Chef de Projet

Statut

Courant

Frcst Pub

Date

Date

Stabilité

SC 47F01Dr.Yakichi HigoPPUB2013-072017

Historique

Stage
Document
Downloads
Date de Décision
Date Cible
PNW
47F/47/NP pdf file 334 kB
2010-02-26 
ANW
47F/57/RVN doc file 141 kB
pdf file 256 kB
47F/57A/RVN pdf file 369 kB
2010-06-252010-07-15
1CD
47F/76/CD pdf file 386 kB
2011-02-182010-11-30
CDM
47F/102/CC doc file 147 kB
pdf file 176 kB
47F/102A/CC doc file 207 kB
pdf file 203 kB
2011-09-08 
ACDV
47F/102/CC doc file 147 kB
pdf file 176 kB
47F/102A/CC doc file 207 kB
pdf file 203 kB
2011-12-022011-11-30
CCDV
47F/120/CDV pdf file 517 kB
pdf file 493 kB
2012-02-292012-03-31
ADIS
47F/142/RVC doc file 101 kB
pdf file 122 kB
2012-11-222012-10-31
DEC
2013-02-192013-01-31
RDIS
2013-02-212013-03-15
CDIS
47F/155/FDIS

2013-04-242013-05-31
APUB
47F/162/RVD pdf file 46 kB
2013-07-012013-06-30
BPUB
2013-07-022013-07-15
PPUB
2013-07-172013-08-15

Projet

IEC 62047-18 Ed. 1.0

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 18: Méthodes d'essai de flexion des matériaux en couche mince

 

Remarque:

Project plan: CDV: 2011-10 FDIS: 2012-09 IS: 2013-02