International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

SC 47F

Systèmes microélectromécaniques

 

Détail

Comité
Groupes de Travail
Chef de Projet

Statut

Courant

Frcst Pub

Date

Date

Stabilité

SC 47F01S. ParkCDIS2015-032017

Historique

Stage
Document
Downloads
Date de Décision
Date Cible
PNW
47F/106/NP pdf file 938 kB
2011-09-30 
ANW
47F/115/RVN pdf file 147 kB
47F/115A/RVN pdf file 147 kB
2012-01-112012-02-15
1CD
47F/126/CD pdf file 781 kB
2012-08-022012-07-31
CDM
47F/135/CC doc file 127 kB
pdf file 136 kB
47F/135A/CC pdf file 158 kB
2012-10-09 
A2CD
47F/135/CC doc file 127 kB
pdf file 136 kB
47F/135A/CC pdf file 158 kB
2013-02-182012-11-30
2CD
47F/149/CD pdf file 328 kB
2013-02-192013-02-28
CDM
47F/169/CC doc file 100 kB
pdf file 64 kB
47F/169A/CC doc file 103 kB
pdf file 63 kB
2013-08-30 
ACDV
47F/169/CC doc file 100 kB
pdf file 64 kB
47F/169A/CC doc file 103 kB
pdf file 63 kB
2013-11-252013-11-30
CCDV
47F/180/CDV
pdf file 288 kB
pdf file 218 kB
2014-02-062014-01-31
ADIS
47F/203/RVC doc file 101 kB
pdf file 56 kB
2014-10-032014-08-15
DEC
2014-10-152014-12-31
RDIS
2014-10-212014-10-31
CDIS
47F/208/FDIS pdf file 419 kB
2014-12-052015-01-15
APUB
 2015-02-15
BPUB
 2015-02-28
PPUB
 2015-03-31

Projet

IEC 62047-15 Ed. 1.0

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromecaniques - Partie 15: Méthode d'essai de la résistance de collage entre PDMS et verre

 

Remarque:

Project plan - CDV: 2013-01, FDIS: 2014-01