International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

SC 47F

Systèmes microélectromécaniques

 

Détail

Comité
Groupes de Travail
Chef de Projet

Statut

Courant

Frcst Pub
Date

Date

Stabilité

SC 47F01Chung-Seog Oh / Hak-Joo LEEPPUB2013-072016

Historique

Stage
Document
Downloads
Date de Décision
Date Cible
PNW
47F/23/NP pdf file 564 kB
2009-07-03 
ANW
47F/35/RVN pdf file 310 kB
47F/35A/RVN pdf file 306 kB
2009-10-162009-11-30
1CD
47F/49/CD pdf file 697 kB
2010-03-052010-01-31
A2CD
47F/55/CC doc file 166 kB
pdf file 357 kB
47F/55A/CC doc file 170 kB
pdf file 252 kB
2010-06-182010-07-31
2CD
47F/62/CD pdf file 1786 kB
2010-07-302010-07-31
CDM
47F/84/CC doc file 205 kB
pdf file 322 kB
47F/84A/CC pdf file 142 kB
2011-04-292010-11-15
A3CD
47F/84/CC doc file 205 kB
pdf file 322 kB
47F/84A/CC pdf file 142 kB
2011-05-122011-11-30
3CD
47F/86/CD pdf file 3650 kB
2011-05-132011-05-31
CDM
47F/100/CC doc file 116 kB
pdf file 123 kB
47F/100A/CC doc file 122 kB
pdf file 127 kB
2011-09-08 
ACDV
47F/100/CC doc file 116 kB
pdf file 123 kB
47F/100A/CC doc file 122 kB
pdf file 127 kB
2011-12-022011-11-30
CCDV
47F/113/CDV pdf file 1660 kB
pdf file 1838 kB
47F/113F/CDV pdf file 1838 kB
2011-12-222012-03-31
ADIS
47F/143/RVC pdf file 34 kB
47F/143A/RVC pdf file 131 kB
2012-11-292012-08-31
DEC
2013-02-202013-01-31
RDIS
2013-02-212013-03-15
CDIS
47F/154/FDIS

2013-04-242013-05-31
APUB
47F/161/RVD pdf file 46 kB
2013-07-012013-06-30
BPUB
2013-07-022013-07-15
PPUB
2013-07-172013-08-15

Projet

IEC 62047-11 Ed. 1.0

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 11: Méthode d'essai pour les coefficients de dilatation thermique linéaire des matériaux autonomes pour systèmes microélectromécaniques

 

Remarque:

CD: 2010-01 CDV: 2010-09 FDIS: 2011-08