International
Electrotechnical
Commission
International Standards and Conformity Assessment
for all electrical, electronic and related technologies
TC 47 |
Dispositifs à semiconducteurs |
Détail
Comité | Groupes de Travail | Chef de Projet | Statut Courant | Frcst Pub Date | Date Stabilité |
|---|---|---|---|---|---|
| TC 47 | 06 | Dr. J. H. Hwang | ACDV | 2014-12 |
Historique
Stage | Document | Downloads | Date de Décision | Date Cible | ||
|---|---|---|---|---|---|---|
| PNW |
| 2011-09-20 | ||||
| ANW |
| 2012-03-09 | 2012-02-15 | |||
| 1CD |
| 2012-10-02 | 2012-06-30 | |||
| ACDV |
| 2013-02-22 | 2013-02-28 | |||
| CCDV | 2013-08-31 | |||||
745 kBProjet
IEC 62779-2 Ed. 1.0
Remarque:
Project plan - CDV: 2013-03, FDIS: 2014-01 Relevant docs - IEC 60748-4 and IEEE P802.15.6/D03