International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

TC 47

Dispositifs à semiconducteurs

 

Détail

Comité
Groupes de Travail
Chef de Projet

Statut

Courant

Frcst Pub

Date

Date

Stabilité

TC 47WG 2J. LynchCCDV2016-062020

Historique

Stage
Document
Downloads
Date de Décision
Date Cible
PNW
47/2130/NP pdf file 332 kB
2012-04-20 
ANW
47/2151/RVN pdf file 7 kB
47/2151A/RVN doc file 155 kB
pdf file 183 kB
2012-10-022012-09-15
1CD
47/2193/CD pdf file 341 kB
2014-02-262014-01-31
ACDV
47/2216/CC doc file 296 kB
pdf file 182 kB
2014-10-312014-06-30
CCDV
47/2226/CDV
pdf file 490 kB
pdf file 546 kB
2015-04-172015-01-31
ADIS
 2015-10-31
DEC
 2015-11-30

Projet

IEC 60749-44 Ed. 1.0

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 44: Méthode d'essai des effets d'un événement isolé (SEE) irradié par un faisceau de neutrons pour des dispositifs à semiconducteurs

 

Remarque:

Function concerned - Environment Project plan - CDV: 2013-07, FDIS: 2015-04 Liaison - JEDEC/EIA and JEITA.