International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

TC 47

Dispositifs à semiconducteurs

 

Détail

Comité
Groupes de Travail
Chef de Projet

Statut

Courant

Frcst Pub

Date

Date

Stabilité

TC 47WG 2J. LynchCCDV2016-112021

Historique

Stage
Document
Downloads
Date de Décision
Date Cible
PNW
47/2115/NP PDF file 546 kB
2011-12-14 
ANW
47/2139/RVN PDF file 20 kB
47/2139A/RVN PDF file 202 kB
2012-07-272012-04-30
1CD
47/2169/CD PDF file 474 kB
2013-05-242013-05-31
CDM
47/2182/CC PDF file 43 kB
47/2182A/CC Word file 341 kB
PDF file 439 kB
2013-09-05 
ACDV
47/2182/CC PDF file 43 kB
47/2182A/CC Word file 341 kB
PDF file 439 kB
2015-03-202015-04-30
CCDV
47/2231/CDV
PDF file 625 kB
PDF file 619 kB
2015-05-292015-06-30
ADIS
 2016-06-30
DEC
 2016-07-31

Projet

IEC 60749-43 Ed. 1.0

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 43: Directives concernant les plans de qualification de la fiabilité des CI

 

Remarque:

Change of target date for ADIS to 2016-06 based on decision taken at TC 47 meeting in Minsk, Belarus on 2015-10-09. SMB/5436/DL - CCDV: 2015-04-30. Functions concerned - Safety and Quality assurance Project plan - CDV: 2014-05, FDIS: 2015-02 Liaison - JEDEC, JEITA Need for co-ordination: IEC TC91 WG3

 

Document Associés:

SMB/5436/DL