International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

SC 47F

Systèmes microélectromécaniques

 

Détail

Comité
Groupes de Travail
Chef de Projet

Statut

Courant

Frcst Pub
Date

Date

Stabilité

SC 47F01Hak-Joo LEEPPUB2011-032015

Historique

Stage
Document
Downloads
Date de Décision
Date Cible
PNW
47/1906/NP pdf file 469 kB
2007-03-30 
ANW
47/1931/RVN pdf file 146 kB
47/1931A/RVN pdf file 153 kB
2007-09-282007-08-15
1CD
47/1961/CD pdf file 437 kB
2008-02-152007-12-31
A2CD
47F/8/CC pdf file 260 kB
47F/8A/CC pdf file 259 kB
2008-09-192008-06-30
2CD
47F/12/CD pdf file 601 kB
2008-12-192008-11-30
ACDV
47F/27/CC pdf file 521 kB
2009-07-312009-04-30
CCDV
47F/30/CDV pdf file 1043 kB
pdf file 687 kB
47F/30F/CDV pdf file 687 kB
2009-08-212009-10-31
ADIS
47F/61/RVC doc file 112 kB
pdf file 210 kB
2010-07-232010-04-30
DEC
2010-11-012010-09-30
RDIS
2010-11-102010-11-30
CDIS
47F/71/FDIS

2010-12-172011-02-15
APUB
47F/77/RVD pdf file 205 kB
2011-02-222011-02-28
BPUB
2011-02-232011-03-15
PPUB
2011-03-142011-04-15

Projet

IEC 62047-8 Ed. 1.0

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 8: Méthode d'essai de la flexion de bandes en vue de la mesure des propriétés de traction des couches minces

 

Remarque:

- Targets: CDV: 2008-09 FDIS: 2009-09 -cc: 49, 56, 91, 101 - Transferred from TC 47/WG 4