International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

SC 47F

Systèmes microélectromécaniques

 

Détail

Comité
Groupes de Travail
Chef de Projet

Statut

Courant

Frcst Pub

Date

Date

Stabilité

SC 47F01Dr Nak-Kyu Lee Dr Hye-Jin LeePPUB2012-032016

Historique

Stage
Document
Downloads
Date de Décision
Date Cible
PNW
47F/37/NP pdf file 738 kB
2009-10-30 
ANW
47F/45/RVN pdf file 326 kB
47F/45A/RVN pdf file 293 kB
2010-02-262010-03-15
1CD
47F/59/CD pdf file 680 kB
2010-07-162010-08-31
CDM
47F/69/CC doc file 201 kB
pdf file 259 kB
47F/69A/CC doc file 193 kB
pdf file 83 kB
2010-09-242010-10-31
ACDV
47F/69/CC doc file 201 kB
pdf file 259 kB
47F/69A/CC doc file 193 kB
pdf file 83 kB
2010-11-122010-11-30
CCDV
47F/70/CDV pdf file 372 kB
2010-11-192010-11-30
ADIS
47F/99/RVC doc file 121 kB
pdf file 83 kB
2011-08-252011-07-31
DEC
2011-10-112011-10-30
RDIS
2011-10-122011-10-31
CDIS
47F/108/FDIS

2011-11-242012-01-15
APUB
47F/118/RVD pdf file 420 kB
2012-02-062012-01-31
BPUB
2012-02-072012-02-15
PPUB
2012-02-282012-03-15

Projet

IEC 62047-14 Ed. 1.0

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 14: Méthode de mesure des limites de formage des matériaux à couche métallique

 

Remarque:

CDV: 2011-08 FDIS: 2012-04 2012-12