International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

SC 47F

Systèmes microélectromécaniques

 

Détail

Comité
Groupes de Travail
Chef de Projet

Statut

Courant

Frcst Pub
Date

Date

Stabilité

SC 47F01Prof. Toshiyuki TsuchiyaPPUB2011-092016

Historique

Stage
Document
Downloads
Date de Décision
Date Cible
PNW
47F/16/NP pdf file 426 kB
2009-02-27 
ANW
47F/18/RVN pdf file 9 kB
47F/18A/RVN pdf file 79 kB
2009-06-122009-07-15
1CD
47F/43/CD pdf file 845 kB
2010-01-222009-11-30
A2CD
47F/52/CC doc file 146 kB
pdf file 242 kB
47F/52A/CC doc file 149 kB
pdf file 63 kB
2010-05-142010-05-31
ACDV
47F/52/CC doc file 146 kB
pdf file 242 kB
47F/52A/CC doc file 149 kB
pdf file 63 kB
2010-07-232010-09-30
CCDV
47F/64/CDV pdf file 422 kB
2010-08-062010-09-30
ADIS
47F/74/RVC pdf file 207 kB
2011-02-172011-04-15
DEC
2011-02-182011-02-28
RDIS
2011-02-242011-03-15
CDIS
47F/80/FDIS

2011-03-252011-05-31
APUB
47F/90/RVD pdf file 206 kB
2011-06-102011-05-31
BPUB
2011-06-112011-06-15
PPUB
2011-09-132011-07-15

Projet

IEC 62047-12 Ed. 1.0

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 12: Méthode d'essai de fatigue en flexion des matériaux en couche mince utilisant les vibrations à la résonance des structures à systèmes microélectromécaniques (MEMS)

 

Remarque:

CDV:2010-10 FDIS:2011-09