International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

SC 47F

Systèmes microélectromécaniques

 

Détail

Comité
Groupes de Travail
Chef de Projet

Statut

Courant

Frcst Pub

Date

Date

Stabilité

SC 47F01Chung-Seog Oh / Hak-Joo LEEPPUB2013-072016

Historique

Stage
Document
Downloads
Date de Décision
Date Cible
PNW
47F/23/NP  
2009-07-03 
ANW
47F/35/RVN  
47F/35A/RVN  
2009-10-162009-11-30
1CD
47F/49/CD  
2010-03-052010-01-31
A2CD
47F/55/CC  
47F/55A/CC  
2010-06-182010-07-31
2CD
47F/62/CD  
2010-07-302010-07-31
CDM
47F/84/CC  
47F/84A/CC  
2011-04-292010-11-15
A3CD
47F/84/CC  
47F/84A/CC  
2011-05-122011-11-30
3CD
47F/86/CD  
2011-05-132011-05-31
CDM
47F/100/CC  
47F/100A/CC  
2011-09-08 
ACDV
47F/100/CC  
47F/100A/CC  
2011-12-022011-11-30
CCDV
47F/113/CDV  
47F/113F/CDV  
2011-12-222012-03-31
ADIS
47F/143/RVC  
47F/143A/RVC  
2012-11-292012-08-31
DEC
2013-02-202013-01-31
RDIS
2013-02-212013-03-15
CDIS
47F/154/FDIS  
2013-04-242013-05-31
APUB
47F/161/RVD  
2013-07-012013-06-30
BPUB
2013-07-022013-07-15
PPUB
2013-07-172013-08-15

Projet

IEC 62047-11 Ed. 1.0

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 11: Méthode d'essai pour les coefficients de dilatation thermique linéaire des matériaux autonomes pour systèmes microélectromécaniques

 

Remarque:

CD: 2010-01 CDV: 2010-09 FDIS: 2011-08