International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

SC 47F

Systèmes microélectromécaniques

 

Détail

Comité
Groupes de Travail
Chef de Projet

Statut

Courant

Frcst Pub

Date

Date

Stabilité

SC 47F01Jae-Hyun KIM / Hak-Joo LEEPPUB2011-082016

Historique

Stage
Document
Downloads
Date de Décision
Date Cible
PNW
47F/22/NP pdf file 165 kB
2009-07-03 
ANW
47F/34/RVN pdf file 277 kB
47F/34A/RVN pdf file 408 kB
2009-10-162009-11-30
1CD
47F/48/CD pdf file 289 kB
2010-03-052010-01-31
A2CD
47F/54/CC doc file 136 kB
pdf file 319 kB
47F/54A/CC doc file 24 kB
pdf file 9 kB
47F/54B/CC doc file 129 kB
pdf file 100 kB
2010-06-182010-07-31
ACDV
47F/54/CC doc file 136 kB
pdf file 319 kB
47F/54A/CC doc file 24 kB
pdf file 9 kB
47F/54B/CC doc file 129 kB
pdf file 100 kB
2010-07-162010-09-30
CCDV
47F/63/CDV pdf file 104 kB
2010-08-062010-09-30
ADIS
47F/81/RVC doc file 95 kB
pdf file 207 kB
2011-04-012011-04-15
DEC
2011-04-012011-04-30
RDIS
2011-04-052011-04-30
CDIS
47F/85/FDIS

2011-05-062011-07-15
APUB
47F/94/RVD pdf file 198 kB
2011-07-132011-07-15
BPUB
2011-07-142011-07-31
PPUB
2011-07-262011-08-31

Projet

IEC 62047-10 Ed. 1.0

Dispositifs à semiconducteur - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 10: Essai de compression utilisant la technique des micro-piliers pour les matériaux des MEMS

 

Remarque:

CD: 2010-01 CDV: 2010-09 FDIS: 2011-08