International
Electrotechnical
Commission
International Standards and Conformity Assessment
for all electrical, electronic and related technologies
SC 47D |
Boîtiers des dispositifs semi-conducteurs |
Détail
Comité | Groupes de Travail | Chef de Projet | Statut Courant | Frcst Pub Date | Date Stabilité |
|---|---|---|---|---|---|
| SC 47D | 02 | M. Sono | PPUB | 2016 |
Historique
Stage | Document | Downloads | Date de Décision | Date Cible | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| PNW |
| 1996-07-31 | ||||||
| DEL |
| 1996-12-14 | 1996-12-15 | |||||
| ANW |
| 1998-03-26 | ||||||
| 1CD |
| 1998-03-27 | 1998-03-30 | |||||
| CCDV |
| 1998-03-27 | 1998-07-31 | |||||
| ACDV |
| 1998-03-27 | ||||||
| CDVM |
| 1998-10-09 | 1998-11-30 | |||||
| ADIS | 1999-05-12 | 1998-11-30 | ||||||
| ADISSB | 1999-12-20 | |||||||
| RDIS | 2000-03-29 | 2000-04-15 | ||||||
| CDIS |
| 2000-04-21 | 2000-04-15 | |||||
| APUB |
| 2000-07-26 | 2000-07-15 | |||||
| BPUB | 2000-07-27 | 2000-08-15 | ||||||
| PPUB | 2000-09-29 | 2000-09-30 | ||||||
49 kBProjet
IEC 60191-6-3 Ed. 1.0
Normalisation mécanique des dispositifs à semiconducteurs - Partie 6-3: Règles générales pour la préparation des dessins d'encombrement des dispositifs à semiconducteurs à montage en surface - Méthodes de mesure pour les boîtiers plats quadrangulaires (QFP)
Remarque:
- Validity date extended acc to decision at Munich 2005 - 47D/624/RM - English only. - Change of project no. - Former 60191-6/A2/F7/E1.
Document Associés:
47D/318/RM