International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

SC 47D

Boîtiers des dispositifs semi-conducteurs

 

Détail

Comité
Groupes de Travail
Chef de Projet

Statut

Courant

Frcst Pub
Date

Date

Stabilité

SC 47D02Hirofumi NAKAJIMAPPUB2010-022016

Historique

Stage
Document
Downloads
Date de Décision
Date Cible
PNW
47D/691/NP pdf file 386 kB
2007-06-15 
ANW
47D/707/RVN pdf file 104 kB
2007-10-122007-10-31
1CD
47D/709/CD pdf file 404 kB
2007-12-212008-04-30
ACDV
47D/720/CC pdf file 121 kB
2008-05-092008-04-30
CCDV
47D/730/CDV pdf file 554 kB
pdf file 590 kB
47D/730F/CDV pdf file 590 kB
2008-09-262008-08-31
CCDV
47D/730/CDV pdf file 554 kB
pdf file 590 kB
47D/730F/CDV pdf file 590 kB
2008-10-24 
ADIS
47D/739/RVC pdf file 103 kB
47D/739A/RVC pdf file 111 kB
2009-03-202009-05-31
DEC
2009-09-142009-05-31
RDIS
2009-09-232009-09-30
CDIS
47D/757/FDIS

2009-11-132009-12-15
APUB
47D/764/RVD pdf file 214 kB
2010-01-182010-01-15
BPUB
2010-01-192010-01-31
PPUB
2010-02-252010-02-28

Projet

IEC 60191-6-19 Ed. 1.0

Normalisation mécanique des dispositifs à semiconducteurs - Partie 6-19: Méthodes de mesure du gauchissement des boîtiers à température élevée et du gauchissement maximum admissible

 

Remarque:

Targets - CDV: 2008-12 FDIS: 2009-10 cc: TC 91 [2/07036] IEC/PAS 60191-6-19