International
Electrotechnical
Commission
International Standards and Conformity Assessment
for all electrical, electronic and related technologies
TC 56 |
Sûreté de fonctionnement |
Détail
Comité | Groupes de Travail | Chef de Projet | Statut Courant | Frcst Pub Date | Date Stabilité |
|---|---|---|---|---|---|
| TC 56 | PT 2.7 | John Miller | PPUB | 2013 |
Historique
Stage | Document | Downloads | Date de Décision | Date Cible | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| AMW |
| 2000-06-16 | ||||||
| 1CD |
| 2001-04-27 | 2001-03-31 | |||||
| A2CD |
| 2002-01-04 | 2002-02-28 | |||||
| 2CD |
| 2002-05-03 | 2002-02-28 | |||||
| ACDV |
| 2002-12-20 | 2002-09-30 | |||||
| CCDV |
| 2003-12-05 | 2003-02-28 | |||||
| CDVM |
| 2004-05-28 | 2004-08-15 | |||||
| DEC | 2005-07-12 | 2005-07-31 | ||||||
| RDIS | 2005-07-14 | 2005-07-31 | ||||||
| ADIS |
| 2005-07-15 | 2004-09-30 | |||||
| CDIS |
| 2005-10-07 | 2005-10-15 | |||||
| APUB |
| 2005-12-12 | 2006-01-15 | |||||
| BPUB | 2005-12-13 | 2006-02-15 | ||||||
| PPUB | 2006-01-25 | 2006-03-15 | ||||||
11 kB
745 kBProjet
IEC 60812 Ed. 2.0
Techniques d'analyse de la fiabilité du système - Procédure d'analyse des modes de défaillance et de leurs effets (AMDE)
Remarque:
- Target MCR: 2010
Document Associés:
56/1013/RM
SMB/3212/R56/1282/Q56/1296/RQSMB/3876/QPSMB/3876A/RV56/1342/INF56/1354/MCR