International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

TC 47

Dispositifs à semiconducteurs

 

Détail

Comité
Groupes de Travail
Chef de Projet

Statut

Courant

Frcst Pub
Date

Date

Stabilité

TC 4705Nobuyuki WAKAIPPUB2010-102015

Historique

Stage
Document
Downloads
Date de Décision
Date Cible
PNW
47/1892/NP pdf file 461 kB
2006-09-29 
ANW
47/1924/RVN pdf file 119 kB
47/1924A/RVN pdf file 132 kB
2007-08-312007-02-15
1CD
47/1946/CD pdf file 365 kB
2007-11-022007-12-31
ACDV
47/1998/CC pdf file 289 kB
2008-09-262008-03-31
CCDV
47/2001/CDV pdf file 392 kB
2008-10-172008-10-31
ADIS
47/2045/RVC doc file 135 kB
pdf file 260 kB
2010-02-122010-06-30
DEC
2010-05-142010-06-30
RDIS
2010-05-252010-05-31
CDIS
47/2063/FDIS

2010-06-182010-08-15
APUB
47/2077/RVD pdf file 206 kB
2010-09-062010-08-31
BPUB
2010-09-072010-09-15
PPUB
2010-09-292010-10-15

Projet

IEC 62374-1 Ed. 1.0

Dispositifs à semiconducteurs - Partie 1: Essai de rupture diélectrique en fonction du temps (TDDB) pour les couches intermétalliques

 

Remarque:

- RDIS: 2010-06-30 PPUB: 2010-10-31 (see SMB/4204/DL) - Proposed target: FDIS: 2010-06 IS: 2010-10 - cc: TC 56, 91, 101 - Targets CDV: 2008-09 FDIS: 2009-09

 

Document Associés:

SMB/4204/DL