International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

TC 47

Dispositifs à semiconducteurs

 

Détail

Comité
Groupes de Travail
Chef de Projet

Statut

Courant

Frcst Pub
Date

Date

Stabilité

TC 4705Jaap BISSCHOPPPUB2007-012015

Historique

Stage
Document
Downloads
Date de Décision
Date Cible
PNW
47/1610/NP pdf file 41 kB
2002-02-22 
ANW
47/1699/RVN pdf file 137 kB
2003-04-182002-07-15
1CD
47/1764/CD pdf file 234 kB
2004-04-302004-05-31
CDM
47/1781/CC pdf file 253 kB
47/1781A/CC pdf file 283 kB
2004-09-032004-08-31
ACDV
47/1781/CC pdf file 253 kB
47/1781A/CC pdf file 283 kB
2005-02-042004-11-30
CCDV
47/1825/CDV pdf file 595 kB
2005-07-012005-02-28
ADIS
47/1864/RVC pdf file 281 kB
2006-05-122006-03-15
DEC
2006-07-112006-07-15
RDIS
2006-07-182006-08-15
CDIS
47/1894/FDIS

2006-10-272006-10-31
APUB
47/1896/RVD pdf file 135 kB
2007-01-162007-01-31
BPUB
2007-01-172007-02-28
PPUB
2007-03-292007-03-31

Projet

IEC 62374 Ed. 1.0

Dispositifs à semiconducteurs - Essai de rupture diélectrique en fonction du temps (TDDB) pour films diélectriques de grille

 

Remarque:

- Target 1CD: 2004-05, CCDV: 2004-12, CDIS 2005-05 - FR will come at FDIS level acc. to Mrs Delort e-mail 05-03-07