International
Electrotechnical
Commission
International Standards and Conformity Assessment
for all electrical, electronic and related technologies
TC 47 |
Dispositifs à semiconducteurs |
Détail
Comité | Groupes de Travail | Chef de Projet | Statut Courant | Frcst Pub Date | Date Stabilité |
|---|---|---|---|---|---|
| TC 47 | 02 | Jim Lynch | PPUB | 2011-06 | 2015 |
Historique
Stage | Document | Downloads | Date de Décision | Date Cible | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| AMW |
| 2009-01-09 | ||||||
| CCDV |
| 2009-07-31 | 2009-06-30 | |||||
| ADIS |
| 2010-06-11 | 2010-03-31 | |||||
| DEC | 2010-06-22 | 2010-07-31 | ||||||
| RDIS | 2011-03-02 | 2010-07-15 | ||||||
| CDIS |
| 2011-03-11 | 2010-09-30 | |||||
| APUB |
| 2011-05-25 | 2011-05-15 | |||||
| BPUB | 2011-05-26 | 2011-05-31 | ||||||
| PPUB | 2011-06-17 | 2011-06-30 | ||||||
9 kB
128 kBProjet
IEC 60749-7 Ed. 2.0
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 7: Mesure de la teneur en humidité interne et analyse des autres gaz résiduels
Remarque: