International
Electrotechnical
Commission
International Standards and Conformity Assessment
for all electrical, electronic and related technologies
TC 47 |
Dispositifs à semiconducteurs |
Détail
Comité | Groupes de Travail | Chef de Projet | Statut Courant | Frcst Pub Date | Date Stabilité |
|---|---|---|---|---|---|
| TC 47 | 02 | Jim LYNCH | PPUB | 2011-07 | 2015 |
Historique
Stage | Document | Downloads | Date de Décision | Date Cible | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| PNW |
| 2008-05-09 | ||||||
| ANW |
| 2008-09-26 | 2008-09-30 | |||||
| 1CD |
| 2009-03-20 | 2009-09-30 | |||||
| CDM |
| 2009-09-18 | 2009-07-31 | |||||
| ACDV |
| 2010-01-08 | 2009-11-30 | |||||
| CCDV |
| 2010-04-16 | 2010-08-31 | |||||
| ADIS |
| 2011-01-14 | 2010-12-31 | |||||
| DEC | 2011-03-10 | 2011-06-30 | ||||||
| RDIS | 2011-03-17 | 2011-03-31 | ||||||
| CDIS |
| 2011-04-22 | 2011-06-15 | |||||
| APUB |
| 2011-06-28 | 2011-06-30 | |||||
| BPUB | 2011-06-29 | 2011-07-15 | ||||||
| PPUB | 2011-07-13 | 2011-08-15 | ||||||
799 kB
169 kBProjet
IEC 60749-40 Ed. 1.0
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais climatiques et mécaniques - Partie 40: Méthode d'essai de chute au niveau de la carte avec utilisation d'une jauge de contrainte
Remarque:
Targets - CDV: 2010-08 FDIS: 2011-05 cc: TC91/WG3