International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

TC 47

Dispositifs à semiconducteurs

 

Détail

Comité
Groupes de Travail
Chef de Projet

Statut

Courant

Frcst Pub

Date

Date

Stabilité

TC 4702Jim LYNCHPPUB2011-072015

Historique

Stage
Document
Downloads
Date de Décision
Date Cible
PNW
47/1972/NP pdf file 799 kB
2008-05-09 
ANW
47/1992/RVN pdf file 120 kB
2008-09-262008-09-30
1CD
47/2012/CD pdf file 452 kB
2009-03-202009-09-30
CDM
47/2032/CC doc file 169 kB
pdf file 502 kB
47/2032A/CC pdf file 245 kB
2009-09-182009-07-31
ACDV
47/2032/CC doc file 169 kB
pdf file 502 kB
47/2032A/CC pdf file 245 kB
2010-01-082009-11-30
CCDV
47/2052/CDV pdf file 641 kB
pdf file 594 kB
2010-04-162010-08-31
ADIS
47/2084/RVC pdf file 222 kB
2011-01-142010-12-31
DEC
2011-03-102011-06-30
RDIS
2011-03-172011-03-31
CDIS
47/2094/FDIS

2011-04-222011-06-15
APUB
47/2100/RVD pdf file 49 kB
2011-06-282011-06-30
BPUB
2011-06-292011-07-15
PPUB
2011-07-132011-08-15

Projet

IEC 60749-40 Ed. 1.0

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais climatiques et mécaniques - Partie 40: Méthode d'essai de chute au niveau de la carte avec utilisation d'une jauge de contrainte

 

Remarque:

Targets - CDV: 2010-08 FDIS: 2011-05 cc: TC91/WG3