International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

TC 47

Dispositifs à semiconducteurs

 

Détail

Comité
Groupes de Travail
Chef de Projet

Statut

Courant

Frcst Pub
Date

Date

Stabilité

TC 4702Jim LYNCHPPUB2008-022016

Historique

Stage
Document
Downloads
Date de Décision
Date Cible
PNW
47/1757/NP pdf file 71 kB
2004-03-26 
ANW
47/1779/RVN pdf file 360 kB
47/1779A/RVN pdf file 238 kB
2004-09-032004-11-30
ANW
47/1779/RVN pdf file 360 kB
47/1779A/RVN pdf file 238 kB
2004-11-262004-11-30
1CD
47/1796/CD pdf file 153 kB
2004-11-262005-04-30
ACDV
47/1867/CC pdf file 163 kB
2006-05-192005-06-30
CCDV
47/1885/CDV pdf file 294 kB
pdf file 312 kB
2006-08-112006-12-31
ADIS
47/1925/RVC pdf file 273 kB
2007-09-032007-04-15
DEC
2007-09-032007-08-15
RDIS
2007-09-132007-09-30
CDIS
47/1943/FDIS

2007-10-262007-12-15
APUB
47/1951/RVD pdf file 137 kB
2008-01-142007-12-31
BPUB
2008-01-152008-01-15
PPUB
2008-02-122008-02-15

Projet

IEC 60749-38 Ed. 1.0

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 38: Méthode d'essai des erreurs logicielles pour les dispositifs à semiconducteurs avec mémoire

 

Remarque:

cc: TC 56-91-101-107 - SMB Decision 124/12(2005-11)- PR should be developed in relation with TC 107 - NEW targets CCDV: 2006-12 approved per SMB/3206/DL

 

Document Associés:

SMB/3206/DL

SMB/3224A/INF