International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

TC 47

Dispositifs à semiconducteurs

 

Détail

Comité
Groupes de Travail
Chef de Projet

Statut

Courant

Frcst Pub

Date

Date

Stabilité

TC 4702James LynchPPUB 2016

Historique

Stage
Document
Downloads
Date de Décision
Date Cible
PNW
47/1472/PAS
2000-01-21 
ANW
47/1505/RVD pdf file 28 kB
2000-04-212000-06-15
1CD
47/1637/CD pdf file 139 kB
2002-05-172002-04-30
ACDV
47/1674/CC pdf file 83 kB
2002-12-132002-09-30
CCDV
47/1675/CDV pdf file 157 kB
2002-12-132003-01-31
ADIS
47/1727/RVC pdf file 131 kB
2003-10-172003-08-15
DEC
2003-11-052003-12-15
RDIS
2003-11-072003-11-30
CDIS
47/1737/FDIS
2003-11-212004-02-15
APUB
47/1747/RVD pdf file 91 kB
2004-02-052004-05-15
BPUB
2004-02-062004-06-15
PPUB
2004-03-092004-07-15

Projet

IEC 60749-33 Ed. 1.0

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 33: Résistance à l'humidité accélérée - Autoclave sans polarisation

 

Remarque:

supersedes IEC/PAS 62172 (2000)