International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

TC 47

Dispositifs à semiconducteurs

 

Détail

Comité
Groupes de Travail
Chef de Projet

Statut

Courant

Frcst Pub
Date

Date

Stabilité

TC 4702Jim LynchPPUB2011-052015

Historique

Stage
Document
Downloads
Date de Décision
Date Cible
AMW
47/2009/MCR pdf file 9 kB
47/2009A/MCR pdf file 217 kB
2009-01-09 
CCDV
47/2019/CDV pdf file 238 kB
pdf file 331 kB
2009-07-312009-06-30
APUB
47/2075/RVC doc file 105 kB
pdf file 207 kB
2010-09-032010-03-31
DEC
2011-04-012010-12-31
BPUB
2011-04-042011-04-30
PPUB
2011-05-252011-08-31

Projet

IEC 60749-30 am1 Ed. 1.0

Amendement 1 - Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 30: Préconditionnement des composants pour montage en surface non hermétiques avant les essais de fiabilité

 

Remarque: