International
Electrotechnical
Commission
International Standards and Conformity Assessment
for all electrical, electronic and related technologies
TC 47 |
Dispositifs à semiconducteurs |
Détail
Comité | Groupes de Travail | Chef de Projet | Statut Courant | Frcst Pub Date | Date Stabilité |
|---|---|---|---|---|---|
| TC 47 | 02 | Mr Jim Lynch | PPUB | 2012-09 | 2017 |
Historique
Stage | Document | Downloads | Date de Décision | Date Cible | ||
|---|---|---|---|---|---|---|
| AMW |
| 2011-05-06 | ||||
| CCDV |
| 2011-08-25 | 2011-07-30 | |||
| ADIS |
| 2012-03-08 | 2012-04-30 | |||
| DEC | 2012-04-19 | 2012-05-31 | ||||
| RDIS | 2012-05-01 | 2012-05-15 | ||||
| CDIS |
| 2012-06-13 | 2012-07-31 | |||
| APUB |
| 2012-08-28 | 2012-08-15 | |||
| BPUB | 2012-08-29 | 2012-08-31 | ||||
| PPUB | 2012-09-25 | 2012-09-30 | ||||
214 kB
100 kBProjet
IEC 60749-27 am1 Ed. 2.0
Amendement 1 - Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 27: Essai de sensibilité aux décharges électrostatiques (DES) - Modèle de machine (MM)
Remarque:
Functions concerned - EMC, Quality assurance Project plan - FDIS: 2011-12 IS: 2012-04