International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

TC 47

Dispositifs à semiconducteurs

 

Détail

Comité
Groupes de Travail
Chef de Projet

Statut

Courant

Frcst Pub

Date

Date

Stabilité

TC 4702Mr Jim LynchPPUB2012-092017

Historique

Stage
Document
Downloads
Date de Décision
Date Cible
AMW
47/2097/RR pdf file 214 kB
2011-05-06 
CCDV
47/2107/CDV pdf file 39 kB
pdf file 79 kB
2011-08-252011-07-30
ADIS
47/2125/RVC doc file 100 kB
pdf file 122 kB
2012-03-082012-04-30
DEC
2012-04-192012-05-31
RDIS
2012-05-012012-05-15
CDIS
47/2135/FDIS

2012-06-132012-07-31
APUB
47/2144/RVD pdf file 116 kB
2012-08-282012-08-15
BPUB
2012-08-292012-08-31
PPUB
2012-09-252012-09-30

Projet

IEC 60749-27 am1 Ed. 2.0

Amendement 1 - Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 27: Essai de sensibilité aux décharges électrostatiques (DES) - Modèle de machine (MM)

 

Remarque:

Functions concerned - EMC, Quality assurance Project plan - FDIS: 2011-12 IS: 2012-04