International
Electrotechnical
Commission
International Standards and Conformity Assessment
for all electrical, electronic and related technologies
TC 47 |
Dispositifs à semiconducteurs |
Détail
Comité | Groupes de Travail | Chef de Projet | Statut Courant | Frcst Pub Date | Date Stabilité |
|---|---|---|---|---|---|
| TC 47 | 02 | James Lynch | PPUB | 2016 |
Historique
Stage | Document | Downloads | Date de Décision | Date Cible | ||
|---|---|---|---|---|---|---|
| PNW |
| 2002-05-17 | ||||
| ANW |
| 2002-07-18 | 2002-07-31 | |||
| 1CD |
| 2002-07-19 | 2002-07-31 | |||
| ACDV |
| 2002-12-13 | 2002-11-30 | |||
| CCDV |
| 2002-12-13 | 2003-01-31 | |||
| ADIS |
| 2003-10-17 | 2003-08-15 | |||
| DEC | 2003-11-05 | 2003-12-15 | ||||
| RDIS | 2003-11-07 | 2003-11-30 | ||||
| CDIS |
| 2003-11-21 | 2004-02-15 | |||
| APUB |
| 2004-02-05 | 2004-05-15 | |||
| BPUB | 2004-02-06 | 2004-06-15 | ||||
| PPUB | 2004-03-09 | 2004-07-15 | ||||
123 kBProjet
IEC 60749-24 Ed. 1.0
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 24: Résistance à l'humidité accélérée - HAST sans polarisation
Remarque:
supersedes IEC/PAS 62336 (2002)