International
Electrotechnical
Commission
International Standards and Conformity Assessment
for all electrical, electronic and related technologies
TC 47 |
Dispositifs à semiconducteurs |
Détail
Comité | Groupes de Travail | Chef de Projet | Statut Courant | Frcst Pub Date | Date Stabilité |
|---|---|---|---|---|---|
| TC 47 | 02 | Jim LYNCH | PPUB | 2016 |
Historique
Stage | Document | Downloads | Date de Décision | Date Cible | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| PNW |
| 1998-02-27 | ||||||
| ANW |
| 1998-06-19 | 1998-07-15 | |||||
| 1CD |
| 1999-07-16 | 1999-11-30 | |||||
| ACDV |
| 2000-07-14 | 1999-12-31 | |||||
| CCDV |
| 2000-07-21 | 2000-11-15 | |||||
| ADIS |
| 2001-02-23 | 2001-03-31 | |||||
| DEC | 2001-11-01 | 2001-07-31 | ||||||
| RDIS | 2001-11-05 | 2001-11-30 | ||||||
| CDIS |
| 2002-01-18 | 2002-02-15 | |||||
| APUB |
| 2002-03-25 | 2002-04-30 | |||||
| BPUB | 2002-03-26 | 2002-05-31 | ||||||
| PPUB | 2002-04-12 | 2002-05-31 | ||||||
93 kBProjet
IEC 60749-2 Ed. 1.0
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 2: Basse pression atmosphérique
Remarque:
- Derived from proj No. 60749/F1/Ed.3 - cc: TC 104