International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

TC 47

Dispositifs à semiconducteurs

 

Détail

Comité
Groupes de Travail
Chef de Projet

Statut

Courant

Frcst Pub

Date

Date

Stabilité

TC 4702Jim LynchPPUB2010-112015

Historique

Stage
Document
Downloads
Date de Décision
Date Cible
AMW
47/2009/MCR pdf file 9 kB
47/2009A/MCR pdf file 217 kB
2009-01-09 
CCDV
47/2014/CDV pdf file 101 kB
pdf file 107 kB
2009-04-242009-06-30
ADIS
47/2040/RVC pdf file 214 kB
2009-12-182009-12-31
DEC
2010-07-092010-02-28
RDIS
2010-07-142010-07-31
CDIS
47/2067/FDIS

2010-08-132010-10-15
APUB
47/2078/RVD pdf file 206 kB
2010-10-182010-10-15
BPUB
2010-10-192010-10-31
PPUB
2010-10-282010-11-30

Projet

IEC 60749-15 Ed. 2.0

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essai mécaniques et climatiques - Partie 15: Résistance à la température de soudage pour dispositifs par trous traversants

 

Remarque:

cc: TC 91, 104