International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

TC 47

Dispositifs à semiconducteurs

 

Détail

Comité
Groupes de Travail
Chef de Projet

Statut

Courant

Frcst Pub
Date

Date

Stabilité

TC 4702M. EtiennePPUB 2016

Historique

Stage
Document
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Date de Décision
Date Cible
PNW
47/1421/NP  
1998-02-27 
ANW
47/1424/RVN  
1998-06-191998-07-15
1CD
47/1521/CD  
2000-06-161999-11-30
ACDV
47/1570/CC  
2001-04-272000-10-30
CCDV
47/1571/CDV  
47/1571F/CDV  
2001-05-042001-05-31
ADIS
47/1587/RVC  
2001-11-022002-01-15
DEC
2002-03-122002-03-15
RDIS
2002-03-222002-04-15
CDIS
47/1638/FDIS  
2002-05-072002-06-30
APUB
47/1653/RVD  
2002-08-122002-08-31
BPUB
2002-08-132002-09-30
PPUB
2002-08-302002-10-15

Projet

IEC 60749-1 Ed. 1.0

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 1: Généralités

 

Remarque:

- intended to become 60749-1 (umbrella publication) - Formerly proj. No 60749/F3/Ed.3 - Split after FDIS level as it contained also 60749-8, -20, -22, -31, -32