International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

SC 47F

Systèmes microélectromécaniques

 

Détail

Comité
Groupes de Travail
Chef de Projet

Statut

Courant

Frcst Pub

Date

Date

Stabilité

SC 47F Kuniki OHWADAPPUB2009-042016

Historique

Stage
Document
Downloads
Date de Décision
Date Cible
PNW
47/1868/NP pdf file 272 kB
2006-05-26 
ANW
47/1891/RVN pdf file 140 kB
47/1891A/RVN pdf file 201 kB
2006-09-222006-10-15
ANW
47/1891/RVN pdf file 140 kB
47/1891A/RVN pdf file 201 kB
2006-12-08 
1CD
47/1900/CD pdf file 252 kB
2007-03-022007-03-31
ACDV
47/1920/CC pdf file 114 kB
2007-07-272007-07-31
CCDV
47/1945/CDV pdf file 196 kB
pdf file 219 kB
2007-11-022007-08-31
ADIS
47/1968/RVC pdf file 124 kB
47/1968A/RVC pdf file 169 kB
2008-04-252008-07-15
DEC
2008-10-202008-12-15
RDIS
2008-10-282008-11-15
CDIS
47F/15/FDIS

2009-01-162009-01-31
APUB
47F/17/RVD pdf file 27 kB
2009-03-272009-03-31
BPUB
2009-03-282009-03-31
PPUB
2009-04-072009-04-30

Projet

IEC 62047-6 Ed. 1.0

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 6: Méthodes d'essais de fatigue axiale des matériaux en couche mince

 

Remarque:

- Targets: CD:2007-03, CDV:2007-12, FDIS:2008-12 - cc: 47E, 56, 91, 101 - Transferred from TC 47/WG 4