International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

SC 47F

Systèmes microélectromécaniques

 

Détail

Comité
Groupes de Travail
Chef de Projet

Statut

Courant

Frcst Pub

Date

Date

Stabilité

SC 47FWG 1Z. DachengCCDV2016-072019

Historique

Stage
Document
Downloads
Date de Décision
Date Cible
PNW
47F/141/NP pdf file 326 kB
2012-11-16 
ANW
47F/152/RVN pdf file 76 kB
47F/152A/RVN pdf file 103 kB
2013-03-272013-03-31
1CD
47F/183/CD pdf file 381 kB
2013-12-272013-11-30
A2CD
47F/193/CC doc file 134 kB
pdf file 83 kB
2014-07-142014-05-31
2CD
47F/194/CD pdf file 388 kB
2014-07-182014-07-31
ACDV
47F/218/CC doc file 137 kB
pdf file 209 kB
2015-03-272014-11-30
CCDV
47F/219/CDV
pdf file 566 kB
pdf file 609 kB
47F/219F/CDV pdf file 609 kB
2015-06-052015-06-30
ADIS
 2015-12-15
DEC
 2016-01-15

Projet

IEC 62047-25 Ed. 1.0

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniqueS - Partie 25: Technologie de fabrication de MEMS à base de silicium - Méthode de mesure de la résistance à la traction-compression et au cisaillement d'une micro zone de brasure

 

Remarque:

Project plan - CDV: 2014-12, FDIS: 2015-10