International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

SC 47F

Systèmes microélectromécaniques

 

Détail

Comité
Groupes de Travail
Chef de Projet

Statut

Courant

Frcst Pub
Date

Date

Stabilité

SC 47F01Chiemi IshiyamaPPUB2012-032016

Historique

Stage
Document
Downloads
Date de Décision
Date Cible
PNW
47F/24/NP pdf file 171 kB
2009-07-03 
ANW
47F/36/RVN pdf file 283 kB
47F/36A/RVN pdf file 273 kB
2009-10-162009-11-30
1CD
47F/44/CD pdf file 408 kB
2010-02-192010-02-28
A2CD
47F/53/CC doc file 101 kB
pdf file 210 kB
47F/53A/CC doc file 136 kB
pdf file 131 kB
47F/53B/CC pdf file 158 kB
2010-05-282010-06-30
CDM
47F/53/CC doc file 101 kB
pdf file 210 kB
47F/53A/CC doc file 136 kB
pdf file 131 kB
47F/53B/CC pdf file 158 kB
2010-09-032010-09-30
ACDV
47F/53/CC doc file 101 kB
pdf file 210 kB
47F/53A/CC doc file 136 kB
pdf file 131 kB
47F/53B/CC pdf file 158 kB
2010-12-172010-11-30
CCDV
47F/72/CDV pdf file 298 kB
2010-12-242010-12-31
ADIS
47F/98/RVC doc file 133 kB
pdf file 161 kB
2011-08-052011-08-31
DEC
2011-10-042011-09-30
RDIS
2011-10-072011-10-31
CDIS
47F/109/FDIS

2011-12-012012-01-15
APUB
47F/119/RVD pdf file 95 kB
2012-02-062012-02-15
BPUB
2012-02-072012-02-29
PPUB
2012-02-282012-03-31

Projet

IEC 62047-13 Ed. 1.0

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 13: Méthodes d'essais de types courbure et cisaillement de mesure de la résistance d'adhérence pour les structures MEMS

 

Remarque:

CDV: 2010-09 FDIS: 2011-08