International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

SC 47F

Systèmes microélectromécaniques

 

Détail

Comité
Groupes de Travail
Chef de Projet

Statut

Courant

Frcst Pub
Date

Date

Stabilité

SC 47F01Prof. Toshiyuki TsuchiyaPPUB2011-092016

Historique

Stage
Document
Downloads
Date de Décision
Date Cible
PNW
47F/16/NP  
2009-02-27 
ANW
47F/18/RVN  
47F/18A/RVN  
2009-06-122009-07-15
1CD
47F/43/CD  
2010-01-222009-11-30
A2CD
47F/52/CC  
47F/52A/CC  
2010-05-142010-05-31
ACDV
47F/52/CC  
47F/52A/CC  
2010-07-232010-09-30
CCDV
47F/64/CDV  
2010-08-062010-09-30
ADIS
47F/74/RVC  
2011-02-172011-04-15
DEC
2011-02-182011-02-28
RDIS
2011-02-242011-03-15
CDIS
47F/80/FDIS  
2011-03-252011-05-31
APUB
47F/90/RVD  
2011-06-102011-05-31
BPUB
2011-06-112011-06-15
PPUB
2011-09-132011-07-15

Projet

IEC 62047-12 Ed. 1.0

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 12: Méthode d'essai de fatigue en flexion des matériaux en couche mince utilisant les vibrations à la résonance des structures à systèmes microélectromécaniques (MEMS)

 

Remarque:

CDV:2010-10 FDIS:2011-09