International
Electrotechnical
Commission
International Standards and Conformity Assessment
for all electrical, electronic and related technologies
SC 47D |
Boîtiers des dispositifs semi-conducteurs |
Détail
Comité | Groupes de Travail | Chef de Projet | Statut Courant | Frcst Pub Date | Date Stabilité |
|---|---|---|---|---|---|
| SC 47D | 02 | Seiji HAMANO | PPUB | 2017 |
Historique
Stage | Document | Downloads | Date de Décision | Date Cible | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| PNW |
| 2000-09-08 | ||||||
| ANW |
| 2001-01-12 | 2001-01-31 | |||||
| ACDV | 2001-06-06 | 2001-08-31 | ||||||
| CCDV |
| 2001-10-12 | 2001-08-31 | |||||
| CDVM |
| 2002-03-22 | 2002-06-15 | |||||
| ADIS |
| 2002-08-16 | 2002-06-30 | |||||
| DEC | 2002-11-19 | 2002-08-31 | ||||||
| RDIS | 2002-11-22 | 2002-12-15 | ||||||
| CDIS |
| 2003-02-14 | 2003-02-28 | |||||
| APUB |
| 2003-04-25 | 2003-05-31 | |||||
| BPUB | 2003-04-28 | 2003-06-30 | ||||||
| PPUB | 2003-06-11 | 2003-07-31 | ||||||
113 kBProjet
IEC 60191-6-4 Ed. 1.0
Normalisation mécanique des dispositifs à semiconducteurs - Partie 6-4: Règles générales pour la préparation des dessins d'encombrement des dispositifs à semiconducteurs à montage en surface - Méthodes de mesure pour les dimensions des boîtiers matriciels à billes
Remarque:
- Validity date extended acc to decision at Munich 2005 - 47D/624/RM - intended to supersede 47D/252/NP - 47D/290/RVN - Decision taken at Arlington/USA - US Sec No: 2/95008
Document Associés:
47D/409/RM
47D/447/RM47D/515/RM