International
Electrotechnical
Commission
International Standards and Conformity Assessment
for all electrical, electronic and related technologies
SC 47D |
Boîtiers des dispositifs semi-conducteurs |
Détail
Comité | Groupes de Travail | Chef de Projet | Statut Courant | Frcst Pub Date | Date Stabilité |
|---|---|---|---|---|---|
| SC 47D | 02 | Hirofumi NAKAJIMA | PPUB | 2010-02 | 2014 |
Historique
Stage | Document | Downloads | Date de Décision | Date Cible | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| PNW |
| 2007-06-15 | ||||||
| ANW |
| 2007-10-12 | 2007-10-31 | |||||
| 1CD |
| 2007-12-21 | 2008-04-30 | |||||
| ACDV |
| 2008-05-09 | 2008-04-30 | |||||
| CCDV |
| 2008-09-26 | 2008-08-31 | |||||
| CCDV |
| 2008-10-24 | ||||||
| ADIS |
| 2009-03-20 | 2009-05-31 | |||||
| DEC | 2009-09-14 | 2009-05-31 | ||||||
| RDIS | 2009-09-23 | 2009-09-30 | ||||||
| CDIS |
| 2009-11-13 | 2009-12-15 | |||||
| APUB |
| 2010-01-18 | 2010-01-15 | |||||
| BPUB | 2010-01-19 | 2010-01-31 | ||||||
| PPUB | 2010-02-25 | 2010-02-28 | ||||||
386 kBProjet
IEC 60191-6-19 Ed. 1.0
Normalisation mécanique des dispositifs à semiconducteurs - Partie 6-19: Méthodes de mesure du gauchissement des boîtiers à température élevée et du gauchissement maximum admissible
Remarque:
Targets - CDV: 2008-12 FDIS: 2009-10 cc: TC 91 [2/07036] IEC/PAS 60191-6-19