International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

SC 47E

Dispositifs discrets à semiconducteurs

 

Détail

Comité
Groupes de Travail
Chef de Projet

Statut

Courant

Frcst Pub
Date

Date

Stabilité

SC 47E  DEL  

Historique

Stage
Document
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Date de Décision
Date Cible
PNW
47E(US)/2/NP  
1993-12-03 
DREJ
1994-10-28 
DEL
1996-02-13 

Projet

PNW 47E-3-6 Ed. 1.0

Amendement à la CEI 747-3 - Méthodes de mesure de la durée de rétablissement d'une diode de redressement ou d'une diode de signal dans le sens direct

 

Remarque:

- Liaison with JC22.2 and JC22.4. - Also applies to IEC 747-2.