International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

SC 47E

Dispositifs discrets à semiconducteurs

 

Détail

Comité
Groupes de Travail
Chef de Projet

Statut

Courant

Frcst Pub
Date

Date

Stabilité

SC 47E  MERGED  

Historique

Stage
Document
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Date de Décision
Date Cible
PNW
1990-09-01 
ANW
   
1991-03-29 
1CD
47(SEC.)/1285/CD  
1992-09-04 
ACDV
1994-10-281993-01-01
MERGED
1996-01-26 

Projet

IEC 60747-8 am3 f2 Ed. 1.0

Valeurs limites et caractéristiques supplémentaires et amendements aux méthodes de mesure pour les transistors à effet de champ de puissance pour commutation, à inclure dans la CEI 747-8

 

Remarque: