International
Electrotechnical
Commission
International Standards and Conformity Assessment
for all electrical, electronic and related technologies
SC 47E |
Dispositifs discrets à semiconducteurs |
Détail
Comité | Groupes de Travail | Chef de Projet | Statut Courant | Frcst Pub Date | Date Stabilité |
|---|---|---|---|---|---|
| SC 47E | MERGED |
Historique
Stage | Document | Downloads | Date de Décision | Date Cible | ||
|---|---|---|---|---|---|---|
| PNW | 1988-02-01 | |||||
| ANW | 1989-10-06 | |||||
| 1CD | 1990-11-07 | |||||
| CCDV |
| 1993-04-23 | ||||
| ADIS | 1994-01-07 | |||||
| MERGED | 1996-02-16 | |||||
Projet
IEC 60747-6 am3 f1 Ed. 1.0
Révision de l'article 2, Mesures thermiques de la CEI 747-6, Chapitre IV
Remarque:
- Transferred from TC 47. - Former 47.6.18.A.