International
Electrotechnical
Commission
International Standards and Conformity Assessment
for all electrical, electronic and related technologies
SC 47E |
Dispositifs discrets à semiconducteurs |
Détail
Comité | Groupes de Travail | Chef de Projet | Statut Courant | Frcst Pub Date | Date Stabilité |
|---|---|---|---|---|---|
| SC 47E | 02 | K. OHWADA | PPUB | 2014 |
Historique
Stage | Document | Downloads | Date de Décision | Date Cible | ||
|---|---|---|---|---|---|---|
| PNW |
| 2000-09-22 | ||||
| ANW |
| 2001-02-15 | 2001-02-15 | |||
| 1CD |
| 2001-07-20 | 2001-07-31 | |||
| ACDV |
| 2001-12-14 | 2001-11-30 | |||
| CCDV |
| 2002-08-23 | 2002-05-31 | |||
| ADIS |
| 2003-08-08 | 2003-04-30 | |||
| DEC | 2004-03-23 | 2004-01-31 | ||||
| RDIS | 2004-03-26 | 2004-04-15 | ||||
| CDIS |
| 2004-04-09 | 2004-06-30 | |||
| APUB |
| 2004-06-17 | 2004-09-30 | |||
| BPUB | 2004-06-18 | 2004-10-31 | ||||
| PPUB | 2004-07-15 | 2004-11-30 | ||||
22 kBProjet
IEC 60747-16-10 Ed. 1.0
Dispositifs à semiconducteurs - Partie 16-10: Format-cadre pour agrément de technologie (TAS) pour circuits intégrés monolithiques hyperfréquences
Remarque:
- cc: IECQ/CMC - IS reconfirmed with 47E/323/MCR, Next review: 2012
Document Associés:
47E/192/INF
47E/323/MCR