International
Electrotechnical
Commission
International Standards and Conformity Assessment
for all electrical, electronic and related technologies
SC 47E |
Dispositifs discrets à semiconducteurs |
Détail
Comité | Groupes de Travail | Chef de Projet | Statut Courant | Frcst Pub Date | Date Stabilité |
|---|---|---|---|---|---|
| SC 47E | MERGED |
Historique
Stage | Document | Downloads | Date de Décision | Date Cible | ||
|---|---|---|---|---|---|---|
| PNW | 1989-06-01 | |||||
| ANW | 1989-10-06 | |||||
| 1CD |
| 1991-04-12 | ||||
| 2CD |
| 1992-12-01 | ||||
| ACDV | 1994-10-28 | 1993-04-01 | ||||
| MERGED | 1996-03-29 | |||||
Projet
IEC 60747-14 f2 Ed. 1.0
Valeurs limites et caractéristiques essentielles pour les éléments de capteurs de pression à semiconducteurs
Remarque:
- Transferred from TC 47. - Former 47.9.3.