International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

TC 47

Dispositifs à semiconducteurs

 

Détail

Comité
Groupes de Travail
Chef de Projet

Statut

Courant

Frcst Pub

Date

Date

Stabilité

TC 4702Dr J. LynchPPUB2013-102014

Historique

Stage
Document
Downloads
Date de Décision
Date Cible
PWI
2006-06-30 
PNW
47/2121/NP pdf file 1825 kB
2012-03-20 
CCDV
47/2122/CDV pdf file 1814 kB
pdf file 1804 kB
2012-03-21 
ANW
47/2138/RVN pdf file 146 kB
47/2138A/RVN pdf file 143 kB
2012-07-262012-08-15
ADIS
47/2156/RVC doc file 200 kB
pdf file 205 kB
2012-12-182012-11-30
DEC
2013-05-022013-03-31
RDIS
2013-05-162013-05-31
CDIS
47/2171/FDIS

2013-06-122013-08-15
APUB
47/2180/RVD pdf file 57 kB
2013-09-042013-08-15
BPUB
2013-09-052013-08-31
PPUB
2013-09-252013-09-30

Projet

IEC 62483 Ed. 1.0

Exigences de réception environnementale pour la susceptibilité des finis de surface en étain et alliage d'étain à la trichite d'étain sur les dispositifs à semiconducteurs

 

Remarque:

Functions concerned - Safety and Quality assurance Project plan - FDIS: 2013-03 This project may involve co-operation with JEDEC Need for coordination within IEC TC91/WG3 Ex-IEC/PAS 62483 (JESD22A121)

 

Document Associés:

47/1842/NP

47/1876/RVN