International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

TC 47

Dispositifs à semiconducteurs

 

Détail

Comité
Groupes de Travail
Chef de Projet

Statut

Courant

Frcst Pub

Date

Date

Stabilité

TC 47WG 2J. LynchRDIS2016-102020

Historique

Stage
Document
Downloads
Date de Décision
Date Cible
PNW
47/2130/NP PDF file 332 kB
2012-04-20 
ANW
47/2151/RVN PDF file 7 kB
47/2151A/RVN Word file 155 kB
PDF file 183 kB
2012-10-022012-09-15
1CD
47/2193/CD PDF file 341 kB
2014-02-262014-01-31
ACDV
47/2216/CC Word file 296 kB
PDF file 182 kB
2014-10-312014-06-30
CCDV
47/2226/CDV
PDF file 490 kB
PDF file 546 kB
2015-04-172015-01-31
ADIS
47/2285/RVC Word file 122 kB
PDF file 146 kB
2016-02-122015-12-31
DEC
2016-03-222016-04-30
RDIS
2016-04-202016-04-15
CDIS
 2016-06-30
APUB
 2016-08-31
BPUB
 2016-09-15
PPUB
 2016-10-15

Projet

IEC 60749-44 Ed. 1.0

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 44: Méthode d'essai des effets d'un événement isolé (SEE) irradié par un faisceau de neutrons pour des dispositifs à semiconducteurs

 

Remarque:

Change of target date for ADIS to 2015-12 based on decision taken at TC 47 meeting in Minsk, Belarus on 2015-10-09. Function concerned - Environment Project plan - CDV: 2013-07, FDIS: 2015-04 Liaison - JEDEC/EIA and JEITA.