International
Electrotechnical
Commission
International Standards and Conformity Assessment
for all electrical, electronic and related technologies
TC 47 |
Dispositifs à semiconducteurs |
Détail
Comité | Groupes de Travail | Chef de Projet | Statut Courant | Frcst Pub Date | Date Stabilité |
|---|---|---|---|---|---|
| TC 47 | 02 | Jim Lynch | PPUB | 2008-02 | 2016 |
Historique
Stage | Document | Downloads | Date de Décision | Date Cible | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| PNW |
| 2004-03-12 | ||||||
| ANW |
| 2004-10-08 | 2004-07-31 | |||||
| ANW |
| 2004-12-17 | 2004-10-31 | |||||
| 1CD |
| 2005-06-24 | 2005-07-31 | |||||
| ACDV |
| 2005-10-28 | 2005-11-15 | |||||
| ACDV |
| 2005-10-28 | 2005-11-30 | |||||
| CCDV |
| 2005-12-16 | 2005-11-30 | |||||
| CDVM |
| 2006-09-22 | 2006-08-31 | |||||
| ADIS |
| 2007-07-18 | ||||||
| DEC | 2007-07-19 | 2006-12-31 | ||||||
| RDIS | 2007-08-06 | 2007-08-15 | ||||||
| CDIS |
| 2007-10-12 | 2007-10-31 | |||||
| APUB |
| 2007-12-19 | 2007-12-15 | |||||
| BPUB | 2007-12-20 | 2007-12-31 | ||||||
| PPUB | 2008-01-30 | 2008-01-31 | ||||||
240 kBProjet
IEC 60749-37 Ed. 1.0
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 37: Méthode d'essai de chute au niveau de la carte avec utilisation d'un accéléromètre
Remarque:
- JP comments @ CD to be re submitted at CDV level - This JESD22-B11 - intended to become future IEC 60749-37 - Issued as IEC/PAS 62050 and also IEC PR in parallel 60749-37 - Targets: CCDV: 2006-03, CDIS, 2007-03