International
Electrotechnical
Commission
International Standards and Conformity Assessment
for all electrical, electronic and related technologies
TC 47 |
Dispositifs à semiconducteurs |
Détail
Comité | Groupes de Travail | Chef de Projet | Statut Courant | Frcst Pub Date | Date Stabilité |
|---|---|---|---|---|---|
| TC 47 | 02 | Jim LYNCH | PPUB | 2006-08 | 2016 |
Historique
Stage | Document | Downloads | Date de Décision | Date Cible | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| PNW |
| 2004-03-26 | ||||||
| ANW |
| 2004-07-16 | 2004-08-15 | |||||
| 1CD |
| 2004-07-16 | 2004-10-31 | |||||
| ACDV |
| 2005-07-08 | 2004-11-30 | |||||
| CCDV |
| 2005-07-15 | 2005-07-31 | |||||
| CCDV |
| 2005-09-30 | ||||||
| ADIS |
| 2006-01-27 | 2006-03-15 | |||||
| DEC | 2006-02-10 | 2006-07-15 | ||||||
| RDIS | 2006-02-14 | 2006-02-28 | ||||||
| CDIS |
| 2006-04-28 | 2006-05-15 | |||||
| APUB |
| 2006-07-04 | 2006-08-15 | |||||
| BPUB | 2006-07-05 | 2006-09-15 | ||||||
| PPUB | 2006-07-18 | 2006-10-15 | ||||||
71 kBProjet
IEC 60749-35 Ed. 1.0
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 35: Microscopie acoustique pour composants électroniques à boîtier plastique
Remarque:
- Target IS 2006-12 - cc: TCs: 56-91-101 - Intended to replace IEC/PAS 62191