International
Electrotechnical
Commission
International Standards and Conformity Assessment
for all electrical, electronic and related technologies
TC 47 |
Dispositifs à semiconducteurs |
Détail
Comité | Groupes de Travail | Chef de Projet | Statut Courant | Frcst Pub Date | Date Stabilité |
|---|---|---|---|---|---|
| TC 47 | 02 | Jim Lynch | PPUB | 2011-04 | 2015 |
Historique
Stage | Document | Downloads | Date de Décision | Date Cible | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| AMW |
| 2009-01-09 | ||||||
| CCDV |
| 2009-09-04 | 2009-06-30 | |||||
| ADIS |
| 2010-08-27 | 2010-05-15 | |||||
| DEC | 2010-12-03 | 2010-12-31 | ||||||
| RDIS | 2010-12-14 | 2010-12-31 | ||||||
| CDIS |
| 2011-01-14 | 2011-03-15 | |||||
| APUB |
| 2011-03-21 | 2011-03-15 | |||||
| BPUB | 2011-03-22 | 2011-03-31 | ||||||
| PPUB | 2011-04-07 | 2011-04-30 | ||||||
9 kB
171 kBProjet
IEC 60749-29 Ed. 2.0
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essai mécaniques et climatiques - Partie 29: Essai de verrouillage
Remarque: