International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

TC 47

Dispositifs à semiconducteurs

 

Détail

Comité
Groupes de Travail
Chef de Projet

Statut

Courant

Frcst Pub
Date

Date

Stabilité

TC 47JWG 47/101H.E. RundqvistPPUB2006-082017

Historique

Stage
Document
Downloads
Date de Décision
Date Cible
AMW
47/1802/MCR pdf file 79 kB
2005-01-14 
CCDV
47/1804/CDV pdf file 193 kB
47/1804F/CDV pdf file 100 kB
2005-01-152005-01-31
CCDV
47/1804/CDV pdf file 193 kB
47/1804F/CDV pdf file 100 kB
2005-03-112005-01-31
CDVM
47/1830/RVC pdf file 160 kB
47/1830A/RVC pdf file 157 kB
2005-07-152005-09-15
ADIS
47/1830/RVC pdf file 160 kB
47/1830A/RVC pdf file 157 kB
2006-02-032005-09-30
DEC
2006-02-102006-02-15
RDIS
2006-02-132006-02-28
CDIS
47/1861/FDIS

2006-03-312006-05-15
APUB
47/1873/RVD pdf file 137 kB
2006-06-052006-07-15
BPUB
2006-06-062006-08-15
PPUB
2006-07-182006-09-15

Projet

IEC 60749-27 Ed. 2.0

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 27: Essai de sensibilité aux décharges électrostatiques (DES) - Modèle de machine (MM)

 

Remarque:

Targets: CDIS 2006-01 cc: TC 91, 101, 104