International
Electrotechnical
Commission
International Standards and Conformity Assessment
for all electrical, electronic and related technologies
TC 47 |
Dispositifs à semiconducteurs |
Détail
Comité | Groupes de Travail | Chef de Projet | Statut Courant | Frcst Pub Date | Date Stabilité |
|---|---|---|---|---|---|
| TC 47 | 02 | Mr Jim Lynch | PPUB | 2013-05 | 2017 |
Historique
Stage | Document | Downloads | Date de Décision | Date Cible | ||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| AMW |
| 2011-05-06 | ||||||||
| CCDV |
| 2011-07-07 | 2011-07-31 | |||||||
| ADIS |
| 2012-04-10 | 2012-03-15 | |||||||
| DEC | 2012-11-02 | 2012-07-31 | ||||||||
| RDIS | 2012-11-12 | 2012-11-30 | ||||||||
| CDIS |
| 2013-01-17 | 2013-02-15 | |||||||
| APUB |
| 2013-04-05 | 2013-03-31 | |||||||
| BPUB | 2013-04-08 | 2013-04-15 | ||||||||
| PPUB | 2013-04-23 | 2013-05-15 | ||||||||
201 kB
150 kBProjet
IEC 60749-26 Ed. 3.0
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 26: Essai de sensibilité aux décharges électrostatiques (DES) - Modèle du corps humain (HBM)
Remarque:
Project plan - FDIS: 2011-12 IS: 2012-04