International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

TC 47

Dispositifs à semiconducteurs

 

Détail

Comité
Groupes de Travail
Chef de Projet

Statut

Courant

Frcst Pub
Date

Date

Stabilité

TC 4702Mr Jim LynchPPUB2013-052017

Historique

Stage
Document
Downloads
Date de Décision
Date Cible
AMW
47/2096/RR pdf file 201 kB
2011-05-06 
CCDV
47/2101/CDV pdf file 9 kB
47/2101A/CDV pdf file 674 kB
47/2101F/CDV pdf file 951 kB
2011-07-072011-07-31
ADIS
47/2127/RVC doc file 150 kB
pdf file 152 kB
2012-04-102012-03-15
DEC
2012-11-022012-07-31
RDIS
2012-11-122012-11-30
CDIS
47/2160/FDIS

2013-01-172013-02-15
APUB
47/2167/RVD pdf file 49 kB
2013-04-052013-03-31
BPUB
2013-04-082013-04-15
PPUB
2013-04-232013-05-15

Projet

IEC 60749-26 Ed. 3.0

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 26: Essai de sensibilité aux décharges électrostatiques (DES) - Modèle du corps humain (HBM)

 

Remarque:

Project plan - FDIS: 2011-12 IS: 2012-04