International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

TC 47

Dispositifs à semiconducteurs

 

Détail

Comité
Groupes de Travail
Chef de Projet

Statut

Courant

Frcst Pub
Date

Date

Stabilité

TC 4702Jim LynchPPUB2011-022015

Historique

Stage
Document
Downloads
Date de Décision
Date Cible
AMW
47/2009/MCR pdf file 9 kB
47/2009A/MCR pdf file 217 kB
2009-01-09 
CCDV
47/2017/CDV pdf file 452 kB
pdf file 669 kB
2009-07-312009-06-30
APUB
47/2074/RVC doc file 101 kB
pdf file 207 kB
2010-09-032010-03-31
DEC
2010-12-032010-12-31
BPUB
2010-12-142010-12-31
PPUB
2011-01-272011-04-30

Projet

IEC 60749-23 am1 Ed. 1.0

Amendement 1 - Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 23: Durée de vie en fonctionnement à haute température

 

Remarque: